• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表（biǎo）、材料、電工、電子產品、各種電子（zǐ）元器件，在高溫、低溫或濕熱環境下的各（gè）項性能指標的檢（jiǎn）驗。試驗數據可通過U盤（pán）拷貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電（diàn）工、電子產品、各種電子元器（qì）件，在（zài）高溫、低溫（wēn）或濕熱環境下的各項性能指標的檢驗。試驗數據（jù）可通過U盤拷貝，電腦無需安裝（zhuāng）任

  

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• 適（shì）用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件，在（zài）高溫（wēn）、低溫或濕熱環境下的各項性能指標的檢驗（yàn）。試驗數據可（kě）通過U盤（pán）拷（kǎo）貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工（gōng）、電子產品、各種電子元器件（jiàn），在高溫、低溫或濕熱環境下的各項性（xìng）能指標的檢驗。試驗數據可通過U盤（pán）拷貝（bèi），電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各（gè）種電（diàn）子元器件，在高（gāo）溫、低溫或濕熱環境下的各項（xiàng）性能指標的檢驗（yàn）。試驗（yàn）數據可通過U盤拷貝，電腦無需安（ān）裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料（liào）、電工、電子產品、各種電（diàn）子元器件，在高溫、低溫或濕熱環（huán）境（jìng）下的各項性能（néng）指標的檢驗。試驗數據可通過U盤（pán）拷貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產（chǎn）品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件，在高（gāo）溫、低溫或濕熱（rè）環境下的各項性能指標的檢驗。試驗數（shù）據可通過（guò）U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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